Neue Technologien zur In-Situ-Partikelcharakterisierung wie PVM® (Particle Vision and Measurement) ermöglichen Wissenschaftlern und Ingenieuren schnelle Messungen des Partikelphasenverhaltens vor Ort ohne Probennahme.
Die neue PVM®V825 Ex-Technologie ermöglicht die Anzeige und Aufzeichnung von Partikelsystembildern in ATEX- und Prozessumgebungen in Echtzeit und versetzt Chemiker und Ingenieure in die Lage, Änderungen in Partikel- und Tröpfchensystemen bei vollen Prozesskonzentrationen, -temperaturen und -drücken sofort zu erkennen – und liefert somit in unübertroffener Geschwindigkeit eine detaillierte Analyse komplexer Partikelsysteme. | ![]() |

